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發(fā)布時間:2025-05-17
關鍵詞:電子漿料成分項檢測報價,電子漿料成分檢測案例,電子漿料成分試驗儀器
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來源:北京中科光析科學技術研究所
因業(yè)務調整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
電子漿料成分檢測體系包含六大核心指標:1.金屬含量測定(貴金屬/賤金屬比例)2.有機載體成分分析(樹脂/溶劑配比)3.顆粒度分布測試(D50/D90值)4.粘度特性表征(觸變指數)5.電性能參數(方阻/附著力)6.雜質元素篩查(重金屬/鹵素)。其中貴金屬含量偏差超過0.5%將導致電極導電性顯著下降,而有機載體中溶劑殘留量超標會引發(fā)燒結氣泡缺陷。
本檢測方案適用于:1.導體漿料(Ag/Pd/Cu系)2.電阻漿料(RuO2系)3.介質漿料(玻璃粉體系)4.背銀漿料(光伏專用)5.低溫固化漿料(聚合物基)。具體涵蓋光伏電池電極、MLCC元件、厚膜電路、觸摸屏導電層等應用場景的原料驗收與過程控制。特殊基材(玻璃/陶瓷/聚酰亞胺)需匹配差異化的前處理程序。
標準化檢測流程包含:1.ICP-OES法測定Ag/Pt/Au等貴金屬含量(GB/T17472)2.TGA-DSC聯(lián)用分析有機載體熱分解特性(ISO11358)3.激光衍射法測試粉末粒徑分布(ISO13320)4.旋轉流變儀測定觸變恢復率(ASTMD2196)5.四探針法測量燒結膜方阻(IEC60440)6.GC-MS聯(lián)用篩查VOC殘留物(EPA8260D)。特殊樣品需進行截面SEM-EDS分析驗證元素分布均勻性。
關鍵設備配置包括:1.電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(檢出限≤0.1ppm)2.同步熱分析儀(升溫速率0.1-100℃/min)3.納米粒度及Zeta電位分析儀(測量范圍1nm-10μm)4.高溫流變儀(最高溫度500℃)5.膜厚測試臺階儀(分辨率0.1nm)6.X射線光電子能譜儀(空間分辨率≤3μm)。所有設備均需通過CNAS校準認證并定期進行NIST標準物質驗證。
1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關數據,編寫報告草件,確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件